入射射线只随穿透物体的厚度增加而按指数规律迅速衰减，在实际X射线检测中常常都是宽束射线情况。即到达探测器的射线中不仅有入射射线中未与物质作用，沿着直线方向穿透物质的一次射线，还有与物质相互作用过程中产生的散射线二次射线和散射电子。应用宽束射线时，一次透射射线和散射射线同时到达探测器，到达探测器强度减弱程度取决于物质的衰减系数和射线在物质中穿越的厚度。单能X射线只存在理想状态下，实际应用中的单能X射线往往是窄束连续谱射线。不同能量的射线穿过同样厚度的物体时所受到的衰减并不相同，使连续谱射线的衰减规律变得复杂。如果对连续谱射线的各波长分量分别进行计算将相当复杂，因此在讨论连续谱射线的衰减规律时，常会引入一个等效波长也称为平均波长。采用这个波长对连续谱射线的衰减规律进行近似的分析计算，X射线等效波长穿过一定厚度的物体后，连续谱射线的透射射线等效波长与入射射线相比，将发生硬化现象即等效波长减小平均能量提高。
用于模式识别的实际图像通常都有许多种特征，抽取有效的特征识别是一个非常重要的问题，这不仅影响到X光机识别的精度，也会直接影响识别的速度。原始图像中包含大量的信息，在大量信息中蕴含的就是众多的特征，选择的特征越多就可以越全面、越完整地描述某个目标。但是特征过多会造成维数爆炸，使一个低维情况下易于分析计算的问题，在高维的情况下就变得完全不可能。因此选择图像的哪些特征，如何去度量这些特征的鉴别能力是决定能否成功完成识别的关键。特征选择问题通常非常的复杂，若把区别不同类别的特征均从原始信息的分析中找到，需要处理大量数据，耗费大量的计算机资源，而某些重要特征往往在众多特征中显不出其相应的重要性来，不易于度量。为了在实际的检测中更、快速分类、通常只需要保留对区分不同类别为重要的特息，舍去那些对分类并无多大贡献的特息，这就是X射线检测机特征筛选与压缩过程。对于产品的检测X光机会通过分析产品的位置、取向、尺寸、轮廓、灰度等特征进行识别，其中边缘和区域特征是常用的。
设备功能
口径：宽400-650mm, 高200-500mm, 常规为400*200;500*300;;650*300;650*350;650*500
检测速度：皮带速度每分钟10米，每小时检测物品：800个左右
检测精度：直径为1.0mm的金属球
图片效果和分辨率：图像清晰，细腻，菱角分明，便于识别
输送带距离底面高度：700-800mm
辐射安全：国际要求≤5 Gy/h，出厂实际测试≤1 Gy/h，完全在安全范围内
选购功能配件
图片打印功能：可以实时打印当前图片
条码打印功能：随机打印条码，按照时间、流水号、客户信息等，任意编辑
智能前端排队输送功能：节约人工成本，提率，能自动向设备输送被检测物品，并且输送的速度受操作人员控制，可选择自动输送和单个物体输送
软件功能：
1、全部用鼠标控制，软键盘操作，方便灵活
2、图像保存：采用时间方式，可以存储50万幅图片
3、客户图片管理：可以设置不同客户代号，分类进行管理
4、图片转存格式：可以转存不同格式，和全部一次性自动转存到的文件夹
5、USB输出：设备具有多功能USB口，可以随时复制想要的数据和图片
6、操作员管理：可以设置不同的操作员号码，便于可控性和可追朔性
7、图像颜色：黑白、彩色、反色任意切换
8、图像放大：整体放大与局部放大可以任意选择 鹰眼功能：局部实时放大，具备鹰眼功能
X射线波长短和穿透性强的特征，使得常规的可见光探测器难以对其进行探测。一百多年以来，人们一直致力于研制新型的X射线探测器，以其能够在减小射线剂量的前提下，获得更好的成像质量。X射线探测器技术的发展与材料技术、微电子技术、现代信息技术以及计算机科学技术等多个学科密切相关。新型X射线探测器的应用，也都会伴随着新型的X射线成像技术的出现。X射线探测器是在接收到X射线后，把它转化为可测量或是可观测的量，如可见光、电流脉冲等。然后再转化为电信号通过电子测量装置进行测量，所有的射线探测器都是利用射线与探测介质作用时的各种特性。如影像的感光效应、闪烁晶体的荧光效应或是物质的电离效应等进行探测的，性能一般于被探测的X射线波段和被探测的参数等相关。无论在任何的成像系统中，探测器性能的好坏都直接影响到整个系统的性能进而影响到图像的质量。对于探测器的选取，还取决于应用的要求与限制。光学转换效率、计算率和空间分辨率以及操作简易性是X射线探测器几个重要的技术指标。
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